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一种SOI MOSFET总剂量辐照模型的建模方法
专利名称: 一种SOI MOSFET总剂量辐照模型的建模方法
专利名称英文:
专利类别: 发明
申请号: 2016102521638?
专利号:
申请日期: 2016-4-21
第一发明人: 陈静
第一发明人英文:
其他发明人: 黄建强; 罗杰馨; 柴展; 吕凯; 何伟伟
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
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缴费情况:
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实施情况:
实施情况英文:
其他备注: 受理
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国外授权日期: